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GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法

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标准号:GB/T 6620-1995

标准名称:硅片翘曲度非接触式测试方法

发布日期:1995-04-18

实施日期:1995-12-01

废止日期:2010-06-01

批准发布部门:国家标准化管理委员会

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位:洛阳单晶硅厂

GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法

GB/T 6620-1995(首页预览图)

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