标准号：GB/T 22586-2018
标准名称：电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
代替标准：GB/T 22586-2008
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-10-01
批准发布部门：中国科学院
归口单位：全国超导标准化技术委员会
起草单位：电子科技大学、南京大学、清华大学、中国科学院物理研究所
起草人：曾成、罗正祥、吉争鸣、孙亮、补世荣、魏斌
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。
本标准适用于表面电阻的测试范围如下：
——频率：8GHz＜f＜30GHz
——测试分辨率：0.01m(f=10GHz)。
测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用Rsf2的关系折合到10GHz的值。
