标准号：GB/T 4937.11-2018
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：张天福、高金环、于学东、崔波、张艳杰、彭浩、李树杰、裴选、迟雷
GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气一空气温度循环试验。
本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。
本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。
本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
