标准号：JJF 1254-2010
标准名称：数显测高仪校准规范
发布日期：2010-05-11
实施日期：2010-11-11
起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
起草人：匡龙(中国科学院光电技术研究所)、耿丽红(中国科学院光电技术研究所)、曹学东(中国科学院光电技术研究所)、冉庆(中国测试技术研究院)
本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm，量程0mm至1000mm的数显测高仪的校准。
数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量测量仪器，用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等。