标准号：DB13/T 5696-2023
标准名称：基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法
发布日期：2023-05-06
实施日期：2023-06-06
本文件规定了基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选的筛选原理、筛选条件、筛选系统构成和要求、筛选方法和判据。
本文件适用于工业级GaN HEMT射频功率器件的快速筛选，GaN HEMT射频功率模块可参照使用。
批发部门：河北省市场监督管理局行业分类无
归口单位：石家庄市市场监督管理局
起草单位：河北博威集成电路有限公司
起草人：郭跃伟、王鹏、张博、王静辉、闫志峰、郝永利、王景亮、刘子浩