当前位置:首页 > 国标 > GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法

GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法

免费下载

标准号:GB/T 6624-1995

标准名称:硅抛光片表面质量目测检验方法

发布日期:1995-04-18

实施日期:1995-12-01

废止日期:2010-06-01

批准发布部门:国家标准化管理委员会

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位:上海第二冶炼厂

GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法

GB/T 6624-1995(首页预览图)

声明:资源收集自网络或用户分享,所提供的电子版文档或存在错误仅供参考,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误