当前位置:首页 > 国标 > GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

免费下载本站标准除公开版均为非正式版标准,仅供学习参考,使用请以正式版为准。

标准号:GB/T 16526-1996

标准名称:封装引线间电容和引线负载电容测试方法

发布日期:1996-09-09

实施日期:1997-05-01

批准发布部门:工业和信息化部(电子)

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位:上海无线电七厂

本标准规定了半导体集成电路封装引线间电容 和引线负载电容的测试方法。本标准适用于半导体集成电路陶瓷、金属、塑料封装引线间电容和引线负载电容测量。

GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

GB/T 16526-1996(首页预览图)

声明:资源收集自网络或用户分享,所提供的电子版文档或存在错误仅供参考,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误