标准号：GB/T 16822-1997
标准名称：介电晶体介电性能的试验方法
发布日期：1997-05-28
实施日期：1998-02-01
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
归口单位：工业和信息化部（电子）
起草单位：中国科学院物理研究所
本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下）介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。
GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法
免费下载
本平台标准仅供学习参考，使用请以正式出版的标准版本为准。声明：资源收集自网络分享，所提供的电子版文档仅供学习参考，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误