标准号：GB/T 17473.3-1998
标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
发布日期：1998-08-19
实施日期：1999-03-01
废止日期：2008-09-01
批准发布部门：中国有色金属工业协会
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：昆明贵金属研究所
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
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