标准号：GB/T 5594.2-1985
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
归口单位：工业和信息化部（电子）
起草单位：天津大学
本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
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