标准号:GB/T 5594.8-1985
标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
发布日期:1985-11-27
实施日期:1986-12-01
废止日期:2016-01-01
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
归口单位:工业和信息化部(电子)
起草单位:上海科技大学
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
标准号:GB/T 5594.8-1985
标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
发布日期:1985-11-27
实施日期:1986-12-01
废止日期:2016-01-01
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
归口单位:工业和信息化部(电子)
起草单位:上海科技大学
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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