标准号：GB/T 11685-2003
标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
代替标准：GB/T 11685-1989、GB/T 8992-1988
发布日期：2003-07-07
实施日期：2004-01-01
批准发布部门：国家标准化管理委员会
归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会
起草单位：核工业标准化研究所
本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
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