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GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法

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标准号:GB/T 42674-2023

标准名称:光学功能薄膜 微结构厚度测试方法

发布日期:2023-08-06

实施日期:2024-03-01

批发部门:中国石油和化学工业联合会

归口单位:全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会

起草单位:中国乐凯集团有限公司、衡山县佳诚新材料有限公司、深圳市纵横标准技术有限公司、东莞市光志光电有限公司、合肥乐凯科技产业有限公司、浙江耀阳新材料科技有限公司、凯鑫森(上海)功能性薄膜产业股份有限公司

起草人:夏江南、高建辉、田坤、韩明星、刘玉磊、刘文亮、赵建明、曹建、姜宁、赵朔、程媛、李宗、姚一凡、李文沾、周鹏、罗惠滨

本文件描述了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜(以下简称薄膜)横截面微结构厚度(以下简称横截面厚度)的方法。

本文件适用于厚度不小于50nm的光学功能薄膜的单层或多层结构的厚度测试。

GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法

GB/T 42674-2023(首页预览图)

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