标准号：GB/T 17626.3-2023
标准名称：电磁兼容 试验和测量技术 第3部分：射频电磁场辐射抗扰度试验
发布日期：2023-12-28
实施日期：2024-07-01
代替标准：GB/T 17626.3-2016
批发部门：国家标准化管理委员会
归口单位：全国电磁兼容标准化技术委员会
起草单位：上海电器科学研究院、芜湖赛宝机器人产业技术研究院有限公司、深圳市智微智能科技股份有限公司、浙江省医疗器械检验研究院、国网四川省电力公司营销服务中心、上海市质量监督检验技术研究院、江苏建筑职业技术学院、中国电子技术标准化研究院、联想(北京)有限公司、广东省医疗器械质量监督检验所、深圳市恒运昌真空技术有限公司、乾宇微纳技术（深圳）有限公司、深圳中科超算技术有限公司、启垠科技（深圳）有限公司、广东中认华南检测技术有限公司、东电检测技术服务（天津）有限公司、上海添唯认证技术有限公司、芮锋射频技术（上海）有限公司、湖北省医疗器械质量监督检验研究院、西华大学、招商局金陵船舶（南京）有限公司、湖南电科院检测集团有限公司、中国电力科学研究院有限公司、上海市计量测试技术研究院、中国信息通信研究院、成都芯通软件有限公司、漳州视瑞特光电科技股份有限公司、深圳欧米智能科技有限公司、深圳市利孚医疗技术有限公司、深圳市兆芯微电子有限公司、中国科学技术大学、海信（广东）空调有限公司、上海电器设备检测所有限公司
起草人：侯怡骎、金鑫、徐扬、陈冬山、李国荣、刘丽娜、王忠阁、李妮、田禾箐、付洪英、吕飞燕、魏斌、乐卫平、彭炯、名朱奎、王鑫、卢炎汉、张猛、卫能、罗宇翔、刘晓旭、徐珂、周太平、陈业刚、王勇、轩辕韵佳、张强、安少赓、张锐钊、蔡勇斌、许迪、潘少辉、黎庭、涂志健、张锐、别清峰
本文件适用于电气电子设备的电磁场辐射抗扰度要求．规定了试验等级和必要的试验程序。
本文件的目的是建立电气电子设备受到射频电磁场辐射时的抗扰度评定依据。在本文件中给出的试验方法描述了评估设备或系统对来自非邻近受试设备（EUT）的射频源的射频电磁场的抗扰度符合性方法。试验环境在第6章有明确规定。