标准号：GB/T 43883-2024
标准名称：微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
发布日期：2024-04-25
实施日期：2024-11-01
批发部门：国家标准化管理委员会
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：中国航发北京航空材料研究院、牛津仪器科技(上海)有限公司、北京科技大学
起草人：娄艳芝、柳得橹、徐宁安
本文件描述了应用透射电子显微镜／扫描透射电子显微镜（TEM/STEM）技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。