当前位置:首页 > 国标 > GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法

GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法

免费下载

标准号:GB/T 25184-2010

标准名称:X射线光电子能谱仪检定方法

发布日期:2010-09-26

实施日期:2011-08-01

批准发布部门:国家标准化管理委员会

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

起草单位:福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室

起草人:王水菊、时海燕、丁训民

u3000u3000本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。

GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法

GB/T 25184-2010(首页预览图)

声明:资源收集自网络或用户分享,所提供的电子版文档或存在错误仅供参考,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误