标准号：GB/T 25758.4-2010
标准名称：无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分：边缘方法
发布日期：2010-12-23
实施日期：2011-10-01
批准发布部门：国家标准化管理委员会
归口单位：全国无损检测标准化技术委员会
起草单位：上海泰司检测科技有限公司、上海材料研究所、上海英华无损检测技术有限公司、上海诚友实业有限公司等
起草人：孔凡琴、李博、章怡明、金宇飞
GB／T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片，来校验管电压最高至500 kv的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效，以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。
