GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定

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标准号:GB/T 28632-2012

标准名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定

发布日期:2012-07-31

实施日期:2013-02-01

批准发布部门:国家标准化管理委员会

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

起草单位:上海市计量测试技术研究院、纳米技术及应用国家工程研究中心

起草人:徐建、陆敏、辛立辉、何丹农、吴立敏、朱丽娜、张冰

本标准规定了三种条件下测量俄歇电子能谱仪和X射线光电子能谱仪横向分辨率的方法。直边法适用于横向分辨率预期值大于1μm的仪器。栅格法适合于横向分辨率预期值大于20nm,小于1μm的仪器。金岛法则适用于横向分辨率预期值小于50nm的仪器。附录A、附录B和附录C给出了测量横向分辨率的带图的实例。

GB/T 28632-2012 表面化学分析  俄歇电子能谱和X射线光电子能谱  横向分辨率测定

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