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GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

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标准号:GB/T 5594.8-2015

标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

代替标准:GB/T 5594.8-1985

发布日期:2015-05-15

实施日期:2016-01-01

批准发布部门:工业和信息化部(电子)

归口单位:工业和信息化部(电子)

起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、中国电子技术标准化研究院

起草人:江树儒、曹易、高永泉、翟文斌

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  第8部分:显微结构的测定方法

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