GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法

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标准号:GB/T 14849.10-2016

标准名称:工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法

发布日期:2016-08-29

实施日期:2017-07-01

批准发布部门:中国有色金属工业协会

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

起草单位:昆明冶金研究院、北京矿冶研究总院、通标标准技术服务(天津)有限公司、云南出入境检验检疫局、北京有色金属研究总院、云南永昌硅业股份有限公司、云南祥云飞龙再生科技股份有限公司、广州有色金属研究院

起草人:刘英波、罗舜、王立、唐飞、滕亚君、周杰、刘维理、陈映纯、麦丽碧、杨毅、陈殿耿、杨琛、段坤艳、杨海岸、赵德平、蒯丽君、程堆强

GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中汞含量的测定,测定范围:0.000 010 %-0.001 0 %。 u3000u3000

GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法  第10部分:汞含量的测定  原子荧光光谱法

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