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GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法

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标准号:GB/T 11073-1989

标准名称:硅片径向电阻率变化的测量方法

发布日期:1989-03-31

实施日期:1990-02-01

废止日期:2008-02-01

批准发布部门:中国有色金属工业协会

归口单位:中国有色金属工业协会

起草单位:峨嵋半导体材料研究所

GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法

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