标准号:GB/T 4937.12-2018
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动
发布日期:2018-09-17
实施日期:2019-01-01
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:迟雷、彭浩、崔波、高金环、岳振鹏、李树杰、裴选、张艳杰
GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内,振动对器件的影响。本试验是破坏性试验,通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T2423.10-2008基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。