GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

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标准号:GB/T 14032-1992

标准名称:半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

发布日期:1992-12-17

实施日期:1993-08-01

批准发布部门:工业和信息化部(电子)

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位:上海元件五厂

本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。

GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

GB/T 14032-1992(首页预览图)

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