标准号:GB/T 14032-1992
标准名称:半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
发布日期:1992-12-17
实施日期:1993-08-01
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:上海元件五厂
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。
标准号:GB/T 14032-1992
标准名称:半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
发布日期:1992-12-17
实施日期:1993-08-01
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:上海元件五厂
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。
声明:资源收集自网络分享,所提供的电子版文档仅供学习参考,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
不能下载?报告错误