GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

免费下载
本平台标准仅供学习参考,使用请以正式出版的标准版本为准。

标准号:GB/T 14030-1992

标准名称:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

发布日期:1992-12-17

实施日期:1993-08-01

批准发布部门:工业和信息化部(电子)

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位:上海元件五厂

本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理

GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

GB/T 14030-1992(首页预览图)

声明:资源收集自网络分享,所提供的电子版文档仅供学习参考,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误