SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

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标准号:SJ/T 11394-2009

标准名称:半导体发光二极管测试方法

代替标准:SJ/T 2355.1~2355.7-1983

发布日期:2009-11-17

实施日期:2010-01-01

主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

中国电子技术标准化研究所

起草单位:中国光学光电子行业协会光电器件分会

起草人:鲍超

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