标准号：SJ/T 11399-2009
标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
起草人：鲍超、胡爱华
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
免费下载
本平台标准仅供学习参考，使用请以正式出版的标准版本为准。声明：资源收集自网络分享，所提供的电子版文档仅供学习参考，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误