标准号：SJ/T 11702-2018
标准名称：半导体集成电路 串行外设接口测试方法
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。
本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。
批准发布部门：工业和信息化部行业分类信息传输、软件和信息技术服务业
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司
起草人：钟明琛、胡海涛、李秦华 等