SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

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标准号:SJ/T 11699-2018

标准名称:IP核可测性设计指南

发布日期:2018-02-09

实施日期:2018-04-01

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构,对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。

本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。

批准发布部门:工业和信息化部行业分类信息传输、软件和信息技术服务业

全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位:哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心等

起草人:王永生、肖立伊、付方发 等

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