SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

免费下载
本平台标准仅供学习参考,使用请以正式出版的标准版本为准。

标准号:SJ/T 11765-2020

标准名称:晶体管低频噪声参数测试方法

发布日期:2020-12-09

实施日期:2021-04-01

适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

起草人:罗宏伟、胡为、王小强 等

声明:资源收集自网络分享,所提供的电子版文档仅供学习参考,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误