标准号：JB/T 9495.7-1999
标准名称：光学晶体光学均匀性测量方法
代替标准：ZB N05 001.7-1986
发布日期：1999-08-06
实施日期：2000-01-01
本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为：△η=±1×10^(-6)。
批准发布部门：国家机械工业局行业分类无
JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法
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