标准号：JB/T 5482-2004
标准名称：X射线晶体定向仪 技术条件
代替标准：JB/T 5482-1991
发布日期：2004-06-17
实施日期：2004-11-01
本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求，试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。
批准发布部门：国家发展和改革委员会行业分类无
北京分析仪器研究所
起草单位：丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等
起草人：赵久、刘海燕
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
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