标准号：EJ/T 1204.2-2006
标准名称：电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量
发布日期：2006-12-15
实施日期：2007-05-01
本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值，用以评估考虑、样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。本部分适用于考虑样品处理影响的计数测量。
批准发布部门：国防科学技术工业委员会行业分类无
核工业标准化研究所
起草单位：中国原子能科学研究院
起草人：魏可新、李景云
EJ/T 1204.2-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量
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