标准号:JJF 1242-2010
标准名称:激光跟踪三维坐标测量系统校准规范
发布日期:2010-01-05
实施日期:2010-04-05
起草单位:中国计量科学研究院
起草人:王为农(中国计量科学研究院)、裴丽梅(中国计量科学研究院)、任国营(中国计量科学研究院)
本规范规定了激光跟踪三维坐标测量系统的校准方法,以下以激光跟踪仪为例进行表述,适用于当作工业测量仪器的激光跟踪仪和原理相同的其他测量仪器的校准。
激光跟踪三维坐标测量系统由主机和反射靶标组成。主机通过干涉仪或测距仪与两个互相垂直的测角系统构成,建立了一个球坐标系。通过双轴旋转驱动机构控制光线跟踪反射靶标的移动,同时测量主机到反射靶标之间的距离,以及这些旋转轴的角坐标,确定靶标在坐标系中的位置,可以测量静止目标,跟踪和测量活动目标。
激光跟踪仪的距离测量使用内置的干涉仪或测距仪。有的激光跟踪仪只具备其中一种距离测量能力,有的则同时具备两种方式。不同的配置使激光跟踪仪对不同的误差源比较敏感,因此对只配有干涉仪、只配有测距仪或同时配有干涉仪和测距仪的激光跟踪仪要求校准不同的计量特性组合。