标准名称：GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
免费下载
本平台标准仅供学习参考，使用请以正式出版的标准版本为准。声明：资源收集自网络分享，所提供的电子版文档仅供学习参考，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误