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T/CNIA 0064-2020 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

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标准号:T/CNIA 0064-2020

标准名称:多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

发布日期:2020-05-27

实施日期:2020-08-01

本标准规定了多晶硅行业用无尘擦拭布中硼、磷、钠、镁、钾、钙、铬、铁、镍、铜、锌杂质含量的测定方法。

本标准适用于多晶硅行业用无尘擦拭布中硼、磷、钠、镁、钾、钙、铬、铁、镍、铜、锌杂质含量的测定,测定范围为0.10ug/g~10.00μg/g。

批发部门:中国有色金属工业协会

起草单位:亚洲硅业(青海)股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、苏州鸿博斯特超净股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、新特能源股份有限公司、内蒙古神舟硅业有限责任公司、国标(北京)检验认证有限公司

起草人:王体虎、宗冰、蔡延国、魏东亮、田润朝、曹岩德、刘凤华、顾小祥、王桃霞、杨晓青、刘国霞、董燕军、刘红、陈英、王海礼、拜黎洁、张海燕、安军林

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