T/BDT 002-2024 射频前端器件及模组测试设备

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标准号:T/BDT 002-2024

标准名称:射频前端器件及模组测试设备

团体名称:中国半导体行业协会

发布日期:2024年10月09日

实施日期:2024年10月10日

支持24射频端口器件的全自动全切换射频测试机,在满足0.5dB@0dB的校准精度的基础上实现8端口S参数和功率的自动校准,缩短校准时;间的同时减少手动校准带来误差,确保准确性S参数测量达到±0.2dB@0dB也可稳定运行,在此技术上增加同步串测,区别于测试机行业传统测试为多站并测的架构。

起草单位:南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文微电子科技股份有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技(上海)股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司

起草人:胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、汪桃红、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙

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