标准号：T/HBAI 001-2024
标准名称：有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法
团体名称：湖北省人工智能学会
发布日期：2024年10月17日
实施日期：2024年10月25日
本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，该方法采用双刺激度对照实验方法，以减少主观因素对实验结果的影响。
同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。通过对双刺激度对照实验获得的数据进行筛选处理，并进行多因素非线性拟合和基于多层感知机的神经网络训练拟合，得到多因素量化公式和神经网络量化模型，考虑因素包括Mura缺陷对比度、尺寸、类型。
起草单位：华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司
起草人：杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚
