GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

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标准号:GB/T 15651.3-2003

标准名称:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

发布日期:2003-11-24

实施日期:2004-08-01

批准发布部门:工业和信息化部(电子)

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位:华禹光谷股份有限公司半导体厂

本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路  第5-3部分:光电子器件  测试方法

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