标准号：GB/T 4589.1-2006
标准名称：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
代替标准：GB/T 4589.1-1989
发布日期：2006-10-10
实施日期：2007-02-01
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究所
起草人：罗发明、陈裕昆、金毓铨
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则：——电特性测试方法；——气候和机械试验；——耐久性试验。
