标准号：GB/T 42838-2023
标准名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
批发部门：工业和信息化部（电子）
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所
起草人：尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。
本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
