标准号：GB/T 14028-2018
标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法
代替标准：GB/T 14028-1992
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司
起草人：张冰、李雷、朱华、黄德东、陈志培、闫辉
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
