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GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

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标准号:GB/T 14141-1993

标准名称:硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

发布日期:1993-02-06

实施日期:1993-10-01

废止日期:2010-06-01

批准发布部门:国家标准化管理委员会

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位:峨眉半导体材料研究所

GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定  直排四探针法

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