JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

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标准号:JC/T 2133-2012

标准名称:半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

发布日期:2012-12-28

实施日期:2013-06-01

本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的方法。本标准适用于半导体化学机械抛光(CMP)中抛光液用的各种硅溶胶。

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

全国工业陶瓷标准化技术委员会

起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所

起草人:陈奕睿、屈海云 等

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