标准号：T/BDT 003-2024
标准名称：高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备
团体名称：中国半导体行业协会
发布日期：2024年10月09日
实施日期：2024年10月10日
同时支持LVDS、204B等数字接口，支持SPI、I2C等协议，支持采样率不高于12.5Gbps的全自动ADC芯片测试机。其SNR、SINAD指标可满足市面上绝大多数芯片的测试需求。通过自研INL、DNL算法，使得在测试上具有更高的效率以及更低的门槛。对于高精度的ADC芯片，动态性能指标的测试稳定性也有明显优势。
起草单位：南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文电子科技有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
起草人：胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、高召、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙