标准号：GB/T 5594.4-1985
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
废止日期：2016-01-01
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
归口单位：工业和信息化部（电子）
起草单位：天津大学
本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
免费下载
本平台标准仅供学习参考，使用请以正式出版的标准版本为准。声明：资源收集自网络分享，所提供的电子版文档仅供学习参考，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误