GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

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标准号:GB/T 35007-2018

标准名称:半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

发布日期:2018-03-15

实施日期:2018-08-01

批准发布部门:工业和信息化部(电子)

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位:成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市众志联合电子有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人:陈雁、罗彬、李锟、蔡志刚、郭超、王会影、邬海忠、钟科

本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号(LVDS,low voltage differential signaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。

本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

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