当前位置:首页 > 国标 > GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

免费下载

标准号:GB/T 33922-2017

标准名称:MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

发布日期:2017-07-12

实施日期:2018-02-01

批准发布部门:国家标准化管理委员会

归口单位:全国微机电技术标准化技术委员会

起草单位:北京大学、北京必创科技股份有限公司、中北大学、中机生产力促进中心、中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人:张威、程红兵、崔波、石云波、陈得民、李海斌、朱悦

本标准规定了MEMS压阻式压力敏感芯片(简称压力敏感芯片)的术语和定义、试验条件、试验的一般规定、试验内容和方法。

本标准适用于闭环和开环MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验。

GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

GB/T 33922-2017(首页预览图)

声明:资源收集自网络或用户分享,所提供的电子版文档或存在错误仅供参考,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误