标准号:JJF 1760-2019
标准名称:硅单晶电阻率标准样片校准规范
发布日期:2019-09-27
实施日期:2020-03-27
起草单位:中国计量科学研究院、福建省计量科学研究院
起草人:高英(中国计量科学研究院)、李兰兰(中国计量科学研究院)、罗海燕(福建省计量科学研究院)、杨爱军(福建省计量科学研究院)
本规范适用于电阻率在0.0030 Ω·cm ~ 10000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
标准号:JJF 1760-2019
标准名称:硅单晶电阻率标准样片校准规范
发布日期:2019-09-27
实施日期:2020-03-27
起草单位:中国计量科学研究院、福建省计量科学研究院
起草人:高英(中国计量科学研究院)、李兰兰(中国计量科学研究院)、罗海燕(福建省计量科学研究院)、杨爱军(福建省计量科学研究院)
本规范适用于电阻率在0.0030 Ω·cm ~ 10000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
声明:资源收集自网络分享,所提供的电子版文档仅供学习参考,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
不能下载?报告错误