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JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范

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标准号:JJF 1760-2019

标准名称:硅单晶电阻率标准样片校准规范

发布日期:2019-09-27

实施日期:2020-03-27

起草单位:中国计量科学研究院、福建省计量科学研究院

起草人:高英(中国计量科学研究院)、李兰兰(中国计量科学研究院)、罗海燕(福建省计量科学研究院)、杨爱军(福建省计量科学研究院)

本规范适用于电阻率在0.0030 Ω·cm ~ 10000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。

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